任意波形發(fā)生器有上百種應(yīng)用方式，但是在電子測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域，其應(yīng)用范圍基本可以可以分為三種：檢驗(yàn)、檢定以及*限/余量測(cè)試。在產(chǎn)品的調(diào)試階段，工程師需要測(cè)試產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)，以檢驗(yàn)產(chǎn)品是否滿足相關(guān)的出廠標(biāo)準(zhǔn)，在這個(gè)過程中，任意波形發(fā)生器需要發(fā)出標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的信號(hào)作為待測(cè)網(wǎng)絡(luò)的激勵(lì)源，通過測(cè)量并記錄被測(cè)網(wǎng)絡(luò)的響應(yīng)，然后將記錄的結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的指標(biāo)進(jìn)行對(duì)照并且得出檢驗(yàn)的結(jié)論。另外，新開發(fā)的工控模塊，數(shù)據(jù)調(diào)理模塊等都需要使用任意波形發(fā)生器通過窮盡測(cè)試來確定其線性度和單調(diào)性等指標(biāo)。在很多場(chǎng)合中，任意波形發(fā)生器需要在其提供的信號(hào)中增加已知的，數(shù)量和類型可重復(fù)的失真或損傷，通過控制失真或損傷相關(guān)的參數(shù)可以對(duì)被測(cè)件進(jìn)行*限/余量測(cè)試。

    一、函數(shù)功能，仿真基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)人員的環(huán)境

　　函數(shù)信號(hào)源是使用zui廣的通用信號(hào)源，它能提供正弦波、鋸齒波、方波、脈沖串等波形，有的還同時(shí)具有調(diào)制和掃描能力，眾所周知，在我們的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中（如大學(xué)電子實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)研究實(shí)驗(yàn)室、工廠開發(fā)實(shí)驗(yàn)室等），我們?cè)O(shè)計(jì)了一種電路，需要驗(yàn)證其可靠性與穩(wěn)定性，就需要給它施加理想中的波形以辨別真?zhèn)?。如我們可使用信?hào)源的DC補(bǔ)償功能對(duì)固態(tài)電路控制DC偏壓電平；我們可對(duì)一個(gè)懷疑有故障的數(shù)字電路，利用信號(hào)源的方波輸出作為數(shù)字電路的時(shí)鐘，同時(shí)使用方波加DC補(bǔ)償產(chǎn)生有效的邏輯電平模擬輸出，觀察該電路的運(yùn)行狀況，而證實(shí)故障缺陷的地方。總之利用任意波形發(fā)生器這方面的基礎(chǔ)功能，能仿真您基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室所必須的信號(hào)。

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